Microscopía Electrónica de Barrido (SEM)
- Microscopía electrónica de barrido (SEM- BSE- EDS).
- El microscopio electrónico de barrido (SEM) permite la obtención de imágenes de alta resolución, mediante un haz de electrones enfocado sobre la muestra que se desea estudiar, “barriendo” su superficie.
Microscopía Electrónica de Barrido (FEGSTEM- EDX, BSE, EBSD)
- Microscopía electrónica de barrido (Cañón de emisión de campo) (FEGSTEM- EDX, BSE, EBSD).
- Cañón de emisión de campo
- Voltaje hasta 30 kV
- Magnificación: 10x – 100000x
- Resolución SE: 1.2 nm
- Resolución BSE: 3.5 nm
Scanning Auger Microprobe
- Scanning Auger Microprobe, Incluidos estudios de fractura in-situ, uno por impacto (enfriamiento de la probeta a temperatura de nitrógeno líquido) y el otro por tensión.
Espectroscopía de Fotoelectrones de Rayos X (XPS/ESCA)
- Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X (XPS/ESCA).
Microscopio de Transmisión por Electrones (TEM) JEOL JEM 2010
- La microscopía electrónica de transmisión es una técnica que emplea un haz de electrones de alta energía que es transmitido a través de una muestra suficientemente fina (aproximadamente 100 nm) para formar una imagen, y puede dar información sobre la estructura de la muestra.
- Características:
- El modelo que disponemos en el CIEMAT es el JEOL JEM 2010, con un voltaje de aceleración de 200 kV y un cañón de electrones termoiónico con filamento de LaB6.
- Dispone de diferentes modelos de portamuestras, para los diferentes análisis que se deseen realizar.
- Este microscopio se encuentra ubicado dentro de una instalación radioactiva, por lo que se puede analizar tanto material irradiado como no irradiado.
Laboratorio de Preparación de Muestras TEM
- La preparación de muestras es un aspecto importante para el análisis TEM, ya que una muestra TEM debe ser suficientemente fina como para que los electrones puedan atravesarla y formar así la imagen.
- Estas muestras pasan por varios métodos de corte, desbastado y pulido para alcanzar la transparencia electrónica.
